¿Cuáles son los métodos de detección para el análisis elemental?
El análisis de composición de sustancias incluye espectroscopia (ultravioleta, infrarroja, cromatografía magnética nuclear (cromatografía de gases, cromatografía líquida, cromatografía de iones) (espectrometría de masas, cromatografía de gases-espectrometría de masas); y cromatografía líquida-espectroscopia de masas); espectroscopia de energía (espectro de fluorescencia, espectro de difracción) para realizar análisis integrales de muestras, mediante la aplicación conjunta de múltiples métodos de análisis de separación, análisis cualitativos y cuantitativos; los componentes de la muestra para determinar la estructura de cada componente de la sustancia. Entre muchos métodos de análisis, el análisis de espectroscopia de energía de rayos X es el método más utilizado para el análisis preliminar de componentes elementales. La ventaja de este método de análisis es que puede corresponder a la composición elemental de microáreas y la microestructura. Es un análisis de composición de microestructura, mientras que el análisis de composición química general, el análisis de fluorescencia y el análisis espectral analizan la composición elemental promedio en un rango amplio. No puede corresponder a la microestructura y no puede estudiar directamente la relación entre la microestructura y las propiedades del material.
El análisis mide principalmente componentes elementales con un contenido superior a 0,1. Durante la prueba, para muestras no conductoras, como cerámicas, materiales exfoliados, materia orgánica, etc. Durante el proceso de observación de imágenes y análisis de componentes de la sonda de electrones, se producirán fenómenos como descarga, deriva del haz de electrones y daño térmico de la superficie, lo que hará imposible ubicar el punto de análisis y enfocar la imagen. Cuando la corriente del haz de electrones es grande, algunas muestras burbujearán y se derretirán en el punto de impacto del haz de electrones. Para que la superficie de la muestra sea conductora, se debe evaporar una película conductora como oro o carbono sobre la superficie de la muestra.
Los métodos de análisis del espectro de energía de rayos X incluyen análisis de puntos, análisis de líneas y análisis de áreas.
El análisis de puntos se refiere al análisis de áreas seleccionadas de la superficie de la muestra irradiadas (bombardeadas) por el haz de electrones incidente. Este método es adecuado para escanear rápidamente un área pequeña de la superficie de la muestra mediante un haz de electrones incidente. El área de análisis de puntos generalmente varía desde unas pocas micras cúbicas hasta decenas de micras cúbicas. Este método se utiliza para el análisis cualitativo o cuantitativo de la microestructura.