Principios básicos de la medición de rejillas

Los principios básicos de la medición de rejilla se presentan a continuación:

La medición de rejilla es una tecnología de medición basada en el principio físico de la formación de franjas de muaré y se utiliza para medir con precisión el desplazamiento de un objeto. . Una rejilla es un elemento óptico que consta de una serie de franjas paralelas transparentes y opacas, cada una de las cuales es uniforme en ancho y espaciado.

En el proceso de medición se suele utilizar el principio de interferencia de dos haces de luz: un haz se llama luz de referencia, que pasa directamente a través de la rejilla, el otro haz se llama luz de medición, que primero; pasa a través del objeto a medir y luego reja. Estos dos haces de luz forman franjas de interferencia específicas en la rejilla, y estas franjas se pueden utilizar para calcular el desplazamiento del objeto medido.

Más específicamente, al medir, las superficies de la escala de rejilla larga y corta se superponen paralelas entre sí, manteniendo un espacio de 0,01 a 0,1 mm, y luego la rejilla indicadora está en su propio plano con respecto a la escala. rejilla. Gire un pequeño ángulo θ. El fenómeno de difracción es también uno de los principios de funcionamiento importantes de los sensores de rejilla: cuando la luz pasa a través de una rejilla, se produce la difracción, lo que hace que cambie la dirección y la longitud de onda de la luz. Esta propiedad se puede utilizar para detectar propiedades del objetivo y realizar mediciones precisas.

Por último, cabe destacar que las franjas de interferencia producidas por la luz de medición y la luz de referencia en la rejilla pueden ser capturadas y analizadas mediante dispositivos como sensores fotoeléctricos o cámaras. Esta tecnología de medición de precisión tiene aplicaciones en muchos campos, como la fabricación de maquinaria, aeroespacial, etc.